- 产品尺寸
3~8"&7~17"&21~85"
- 效率
3.5 Sec(3~8")&8Sec(7~17")&12~19Sec(21~85")
- 设备精度
AOI±2μm
ART±60mΩ
- 设备尺寸
AOI: 3400×1750×1700mm(仅供参考)
ART: 2000×16500×1800mm(仅供参考)
- 技术优势
高精度高稳定性能
dimpple过滤功能
IC/FPC和COF“八字”型bump导电粒子检测
Bump区异物裂纹检测,≥10μm异物可检出
IC正面外观检测,X/Y ≥ 10μm
颗选增加端子区异常检测,包含异物裂纹+崩边
- 技术优势
AOI:LCM上料→CCD定位→压痕粒子+精度检测→自动出料
ART:LCM上料→CCD定位→阻抗测试→自动出料
全自动压痕粒子检测和阻抗测试设备
全自动压痕粒子检测和阻抗测试设备,应用于AOI-COF/IC/FPC本压后导电粒子检测,本压后粒子以及AG阻抗测试,流程包括上料、CCD定位、检测/测试、出料。
细节图
技术参数
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